El Sistema Nacional de Microscopía dependiente de la Secretaría de Articulación Científico Tecnológica (SACT) junto con el Centro de Microscopia del IFIR convoca a participar del curso básico y avanzado "Fundamentos de Microscopia Electrónica de Transmisión y Barrido".

Fecha: del 1 al 12 de abril de 2019.

Lugar: Centro de Microscopías del IFIR, Predio CCT Rosario.

Condiciones generales de inscripción: Profesionales formados en Ciencia de Materiales con conocimientos básicos de óptica, cristalografía, defectos de la red, etc.

Coordinadora del curso: Iris Alvarez, alvarez@fceia.unr.edu.ar

Fecha límite de inscripción: 8 de marzo de 2019

Otras consultas: microscopia@mincyt.gob.ar  

Se adjunta el programa e información adicional del curso.